Spatial Point Patterns

Methodology and Applications with R

Spatial Point Patterns voorzijde
Spatial Point Patterns achterzijde
  • Spatial Point Patterns voorkant
  • Spatial Point Patterns achterkant

Specificaties
ISBN/EAN 9781482210200
Auteur Adrian (Centre for Exploration Targeting Baddeley
Uitgever Van Ditmar Boekenimport B.V.
Taal Engels
Uitvoering Gebonden in harde band
Pagina's 810
Lengte 229.0 mm
Breedte 178.0 mm

Wat vinden anderen?

Er zijn nog geen reviews van dit product.